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SJ/T 10624-1995 X射线管寿命试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-19 03:12:36  浏览:9969   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:X射线管寿命试验方法
英文名称:Methods of life test for X-ray tubes
中标分类: 综合 >> 标准化管理与一般规定 >> 技术管理
替代情况:SJ 1597-80
发布部门:中华人民共和国电子工业部
发布日期:1995-04-22
实施日期:1995-10-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
归口单位:电子工业部标准化研究所
起草单位:杭州电子管厂
起草人:华惠英、胡有成、陈学慧
出版社:电子工业出版社
出版日期:1995-09-01
页数:4页
适用范围

本标准规定了X射线管寿命试验方法。
本标准适用于医疗、检测和分析用X射线管。

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引用标准

GB 12079 X射线管光电性能测试方法

所属分类: 综合 标准化管理与一般规定 技术管理
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【英文标准名称】:Connectorsforopticalfibresandcables;part9:sectionalspecificationforfibreopticconnector;typeOF-2
【原文标准名称】:光纤和光缆连接器.第9部分:光纤连接器的分规范.OF-2型
【标准号】:IEC60874-9-1993
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1993-05
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/SC86B
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:光波导;玻璃纤维电缆;电气工程;电缆;插头;紧固件;分规范
【英文主题词】:cables;fasteners;sectionalspecification;electricalengineering;opticalwaveguides;electricplugs;glassfibrecables
【摘要】:
【中国标准分类号】:L23
【国际标准分类号】:33_180_20
【页数】:25P;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:电子器件详细规范 4CS122型硅高频双绝缘栅场效应晶体管(可供认证用)
英文名称:Detail specification for electronic components-High frequency silicon dual insulated-gate field-effect transistor,Type 4CS122 (Applicable for certification)
中标分类: 能源、核技术 >> 能源、核技术综合 >> 技术管理
替代情况:原标准号GB 9501-88
发布日期:1996-11-20
实施日期:1997-01-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:2010-01-20
出版日期:1900-01-01
页数:12页
适用范围

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引用标准

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所属分类: 能源 核技术 能源 核技术综合 技术管理